SAC-10Vx​

​IC側チャネル分析

ICI 01L-EFTセットには、ICIL-EFTソースの1つが含まれています。これらは、高速過渡パルスをテストICに結合します。パルス電界、パルス磁界、パルス電流源のいずれかを選択できます。サイドチャネル分析は、すべてのソースで実行できます。さらに、テストICの個々の領域のイミュニティを調べることが出来ます。

​スキーム構造

IC​​IHH500-15を使用した概略構造

使用中のICIプローブ

ICI 03L-EFTセットには、電界、磁界、または電流パルスのいずれかを放出する3つの異なるICIソースが含まれています。これにより、非常に正確で高解像度のIC分析とボディバイアス注入を実行できます。さらに、ソースを使用して、サイドチャネル分析を実行できます。例えば、安全性が重要な回路をテストできます。特別な機能は、高解像度のピーク(非常に小さな領域をチェックするため)と非常に低いトリガーからパルスへのジッター(特にプログラムフローを中断するため)です。

​スキーム構造

​プローブを使用すると、高速の過渡磁場、電場、および電流パルスをICに結合できます。

【ICI 01L-EFTセット】               

  ICEMパルスカップリングロングパルス  

【ICI 03L-EFTセット】               

  ICEMパルスカップリングロングパルス  

IC​​IHH500-15を使用した概略構造

​使用中のICIプローブ

【ICI HH500-15L-EFT】               

  パルス磁場源  

​S603-S750セット内容

ICI HH500-15L-EFTパルス磁場源は、高速過度パルスをテストIC(オープンダイ)に結合します。このフィールドソースは、サイドチャネル分析を実行するために使用できます。さらに、テストICの個々の領域のイミュニティを調べることができます。

​ICIHH500-15-EFT使用例

【ICI E450L-EFT】               

  パルスEフィールドソース  

電気パルスフィールドソースICIE450L-EFTは、高速過渡パルスをテストIC(オープンチップ)に結合します。これにより、サイドチャネル分析またはICの個々の領域の耐性のテストが可能になります。

​ICIE450-L-EFT使用例

【ICI I900L-EFT】               

  パルス電源(FBBI)  

ICI900L-EFTパルス電流源は、スプリングコンタクトチップを介して高速過渡パルスをテストIC(フォワードボディーバイアスインジェクション)に結合します。このフィールドソースは、サイドチャネル分析を実行するために使用できます。さらに、テストICの個々の領域のイミュニティを調べることができます。

​ICII900L-EFT使用例