SAC-10Vx​

​スキャナー

  ロングスキャナー     

IC-Scanner ICS 105セットは、集積回路を介して高周波近接磁場の測定を可能にします。使用するICRマイクロニアフィールドプローブに応じて、50~100㎛の磁場または電場を検出できます。

​プローブを自動的に回転させて、磁場の方向を正確に決定することもできます。オプションで、ICスキャナーをユニバーサルホルダーUHL-DUTおよびプローブホルダーSH01とともに使用して、小さなアセンブリで測定することもできます。ICスキャナーは、わずか数ステップで集積回路のESD/EFDイミュニティテストに備えることができます。

​ソフトウェアCSスキャナーを備えたICS105アプリケーション

​プローブホルダー付きICS105 SH01

ユニバーサルホルダーUHDUTと

テストアイテムを備えたICS105

ICスキャナーFLS106ICは、ICRニアフィールドマイクロプローブを3つの直線軸で移動し、ICRニアフィールドマイクロプローブを1つの軸で電子アセンブリのIC上で回転させるための4軸位置決めシステムです。

IC近接磁場マイクロプローブを使用すると、最大6GHzの高周波磁場または電界を測定できるため、50~100㎛の高い測定分解能が可能になります。

​ICスキャナーは、わずか数ステップでアセンブリの表面スキャンまたはESD/EFTイミュニティテスト用に準備できます。

​最大60㎛の分解能を持つ位置決めシステムとニアフィールドマイクロプローブ

【ICS105セット】               

  ICスキャナー4軸位置決めシステム  

​ユニバーサルホルダー付きICS105 UHDUT

【FLS 1061Cセット】               

  ICスキャナー4軸位置決めシステム  

​マイクロプローブICRを備えたFLS106

【FLS 106PCBセット】               

  PCBスキャナー3軸位置決めシステム  

ランガースキャナーFLS106PCBは、3軸位置決めシステムです。

ニアフィールドプローブを使用して、最大20GHzの磁場または電界を測定し、Hフィールドソースを使用して、最大200mTのパルスフィールドをテストオブジェクトに適用できます。ニアフィールドプローブまたはフィールドソースは、3つの軸に沿ってアセンブリの上に配置出来ます。測定対象物の光学的位置制御は、デジタル顕微鏡カメラの助けを借りて行われます。付属の衝突保護装置は、テストオブジェクトに触れると垂直方向の移動を停止します。

スキャナーとSX~LFファミリーの近接フィールドプローブの組み合わせにより、100kHzから20GHzの周波数範囲での測定が可能になります。

FLS106PCBスキャナーは、ChipScan-Scannerソフトウェアを使用してPC経由で制御されます。このソフトウェアは、スペクトルアナライザからの測定データの読み取り、グラフィック表現(2Dまたは3D)、測定データの保存と出力(CSVファイル)を可能にします。

​スキャナーFLS106PCBは、回転ユニットを備えた4軸位置決めシステムにアップグレードできます。

​FLS106使用例

​ボード、ニアフィールドプローブ、顕微鏡カメラで使用中のFLS 106

  ニアフィールドマイクロプローブ     

​ニアフィールドマイクロプローブは、HフィールドとEフィールドを設定します。

ニアフィールドマイクロプローブは、0.5MHz~6GHzの周波数範囲で、60㎛~300㎛の分解能

​でEフィールドおよびHフィールドの測定に使用されます。

【ICR HH100-6セット】               

  ニアフィールドマイクロプローブ2.5MHz~6GHZ  

​ニアフィールドマイクロプローブを使用すると、IC、ピン、または個々のボンドワイヤの磁気ニアフィールドを測定できます。プローブヘッドには水平測定コイルが装備されています。磁場測定用内径は100㎛です。

​バイアスティー706

​ICR5 HH100-6

​ICR HH100-6セット内容

【ICR HV150-6セット】               

  ニアフィールドマイクロゾンド2.5MHz~6GHZ  

​ニアフィールドマイクロプローブを使用すると、IC、ピン、または個々のボンドワイヤの磁気ニアフィールドを測定できます。プローブヘッドには垂直測定コイルが装備されています。磁場測定用内径は150㎛です。

​バイアスティーBT706

​ICR HV150-6

​ICR HV150-6セット内容

【ICR 03セット】               

  ニアフィールドマイクロプローブセット  

ICR03セットには、選択した3つのICRニアフィールドマイクロプローブ(磁場または電界)が含まれています。​

​プローブは、非常に高い分解能と感度で磁場または電気の近接磁場を測定するために使用されます。測定対象物までの距離は1mm未満が最適です。プローブヘッドには、垂直(HV)または水平(HH)の測定コイルが装備されています。プリアンプ各プローブに統合されており、BT706バイアスティーから電力が供給されます。

​アプリケーションICRプローブ

​ビースティーBT706

​ICR 03セット内容

【ICRE 150セット】               

  ニアフィールドマイクロプローブEフィールド7MHz~3GHZ  

ニアフィールドマイクロプローブは、電気的ニアフィールドの高解像度測定に使用されます。ICR Eプローブを使用して、次の測定を実行できます。

・IEC61967-3に準拠したICによる表面スキャン

・ICによるボリュームスキャン

・PINスキャン

​プリアンプはプローブハウジングに組み込まれており、バイアスティーから電力が供給されます。

​ICRE150

​バイアスティーBT706

​ICRE150セット内容

  ニアフィールドスキャナープローブ     

開発中の電界および磁界を測定するためのスキャナーで使用するための

パッシブ近接フィールドプローブ​

【LFS-B 3               

  スキャナープローブ100KHz~50MHz  

H​フィールドプローブLFS-B3の測定コイルは、プローブシャフトに直交して配置されています。プローブヘッドを垂直に配置すると、測定コイルはプリント回路基板の表面に直接配置されます。これにより、回路基板の表面の届きにくい領域、例えばスイッチングレギュレータの大きなコンポーネント間での測定が可能になります。

​LFS-B 3は、パッシブニアフィールドプローブです。HフイールドプローブLFS-R3との違いは、コイルが90℃回転することです。LFS-B3は、測定対象から直交して現れる磁力線を検出します。側面からプローブに入る磁力線は検出されません。ニアフィールドプローブは、小型で便利です。シース電流が減衰し、電気的にシールドされています。ニアフィールドプローブは、50Ω入力のスペクトルアナライザーまたはオシロスコープに接続されています。Hフィールドプローブには、内部に50Ωの終端抵抗がありません。

【RFセット               

  スキャナープローブ30MHz~3GHz  

​RFセットには、開発中の電界および磁界を測定するためのスキャナーで使用する3つのパッシブ近接磁場プローブが含まれています。

これらは、30MHz~3GHzの周波数範囲に設計されています。RFSセットのプローブヘッドにより、電子アセンブリの近くで測定を行い、干渉減を特定できます。それらは、テストオブジェクトのニアフィールドの画像全体を文書化します。

​スキャナープローブにはシース電流減衰があります。磁場プローブは電気的にシールドされています。スキャナープローブは50Ω入力のスペクトルアナライザーまたはオシロスコープに接続されてます。内部に50Ωの終端抵抗はありません。近接場プローブの測定信号は、プリアンプPA203またはPA303によって増加させることができます。さらにLFS,RFS,XFS,及びXSXスキャナープローブをリクエストに応じて製造できます。

​RFS-B3の適用

​RFSセット内容

【XFS-R3-1               

  スキャナープローブ30MHz~6GHz  

​XFS-R3-1​スキャナープローブは、アセンブリのHF磁場を高解像度で測定するために使用されます。たとえば、ICのピンとハウジング、導体経路、サポートコンデンサ、EMCコンポーネントの周囲の領域です。

​XFS-R3-1磁場スキャナープローブは、高磁場強度の領域のコンポーネントに近い測定に適しています。ニアフィールドプローブはシース電流が減衰し、電気的にシールドされています。ニアフィールドプローブは、50Ω入力のスペクトルアナライザーまたはオシロスコープに接続されています。磁場スキャナープローブには、内部終端抵抗があります。

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