SAC-10Vx​

​エミッション

サンプルセットは、ICピンでIEC61967-4に従って伝導エミッションを測定するために使用されます。(直接1オーム/150オームカップリングでの測定)。電流と電圧の測定ごとに1つのサンプルを使用できます。テストICの各ピンに到達し、サンプルと接触することが出来ます。

プローブセットを使用した測定により、測定の高レベルの再現性と比較可能性が保証されます。

​LangerEMV-TechnikのICE1ICテスト環境を使用してテストICを試運転します。測定は、ChipScan-ESAソフトウェアを使用して実行できます。ソフトウェアに保存されているすべての測定ピンの測定結果を迅速かつ体系的に比較できます。

​P603-1での使用例

P750を使用した測定セットアップのスキーム​

【P603/P750セット】               

  実施されたRF測定分析、1オーム/150オーム  

サンプルセットは、ICピンの伝導エミッション(直接1オーム/150オームカップリングでの測定)を測定するために使用されます。電流と電圧の測定ごとに1つのサンプルを使用できます。テストICの各ピンに到達し、サンプルと接触することが出来ます。

プローブセットを使用した測定により、測定の高レベルの再現性と比較可能性が保証されます。

​LangerEMV-TechnikのICE1ICテスト環境を使用してテストICを試運転します。測定は、ChipScan-ESAソフトウェアを使用して実行できます。ソフトウェアに保存されているすべての測定ピンの測定結果を迅速かつ体系的に比較できます。

​P603での使用例

​ICプローブを使用すると、伝導RF測定を実行し、RFフィールドを結合できます。

【P603-1/P750セット】               

  IEC 61967-4に準拠したHF測定、1オーム/150オーム  

P750を使用した測定セットアップのスキーム​

【S603/S750セット】               

  IEC 61967-4に準拠したHF測定、1オーム/150オーム  

サンプルセットは、ICピンの伝導エミッション(直接1オーム/150オームカップリングでの測定)を測定するために使用されます。S603プローブは電流測定に使用され、S750プローブは電圧測定に使用されます。

S603/S750セットを使用した測定は、高い再現性と比較可能性を保証します。​測定は、ChipScan-ESAソフトウェアを使用して実行できます。ソフトウェアに保存されているすべての測定ピンの測定結果を迅速かつ体系的に比較できます。

​S603-S750セット内容

​HF電圧計S750での使用例

【P600/P750セット】               

  実施したRF測定  

プローブは、電流と電圧の直接ラインベースのHF測定に使用されます。ICピンはプローブで個別に測定できます。​

​P602を使用した概略測定装置

​P603付き測定ステーション

【P1601/P1702セット】              

  最大1GHzのHFフィールド結合  

HF磁場抽出用のプローブセットには、磁場プローブと電界プローブが含まれています。それらは、その機能中にICから切り離されたそれぞれの近接場を測定するために使用できます。測定値は、フィールドのタイプに応じて個別にICの放出を評価するのに役立ちます。測定とすべての計算は、ChipScan-ESAソフトウェア​を使用して実行されます。

​P1702での使用例

​P1702を使用した配置の測定スキーム

P1601/P1702セット内容

【P1602/P1702セット】              

  最大3GHzのHFフィールド結合  

HF磁場抽出用のプローブセットには、磁場プローブと電界プローブが含まれています。それらは、その機能中にICから切り離されたそれぞれの近接場を測定するために使用できます。測定値は、フィールドのタイプに応じて個別にICの放出を評価するのに役立ちます。測定とすべての計算は、ChipScan-ESAソフトウェア​を使用して実行されます。

​P1602での使用例

​P1702を使用した配置の測定スキーム

P1602/P1702セット内容

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