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－NEWー 最新情報
PCB耐性
アセンブリおよびデバイスのイミュニティ試験および分析に伴う測定システムおよびEMCツール
E1セット
S2セット
P1セット
P23セット
イミュニティ対策システム
E１用磁界プローブ
磁界・電界パルス
電界パルス
PCB排出
開発段階におけるアセンブリおよびデバイスの放射分析のための測定システムとEMCツール
LF1セット
RF1セット
PA2522セット
PA3010セット
磁界プローブ
磁界・電界プローブ
EMCプローブ用プリアンプ
EMCプローブ用プリアンプ
ICテストシステム
ICテストシステムでは、開発者は特定の妨害または放射に対する回路の挙動をテストします。
ICは、動作状態でテストされます。
ICE１セット
ICセキュリティ
ICセキュリティ製品を使用すると、電磁サイドチャネル解析を使用してICを詳細に解析し、電磁妨害
パルスを使用してICの機能を具体的に障害することができます
スキャナーポジショニングシステム
ICS１０５セット
FLS1061セット
ハウツービデオ
P１セットのミニバーストフィールド発生器の使い方ビデオ
極めて高い電界強度を持つ局所バースト/ESD相当のパルスフィールドを発生
シールドテントは、電子回路の測定の移動式キャビンで
外部の高周波電磁場の影響を遮断します
ESA１セットは、モジュールから放射される妨害波の
比較EMC測定を行うのに適しています
全てのESD発生器は、不要な電界と磁界を放出します
P331-2-ESD発生器は、不要な電界と磁界の干渉を受けません
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